泛胜DDY微电脑茎秆强度仪
泛胜DDY微电脑茎秆强度仪采用针刺、压碎、折断三种不同探头分别测量茎秆穿刺，压碎、和弯曲强度，茎秆断裂或者屈服瞬间产生的最大力，即茎秆的强度。
SPAD-2高精度新型叶绿素测定仪
SPAD-2高精度新型叶绿素测定仪根据叶绿素光谱吸收规律，采用两种不同的发光管照射叶片，通过测量透过叶片的光的强度计算出叶片内的叶绿素相对含量或者绿色程度。
ZZY高精度植株营养测定仪使用方法
ZZY高精度植株营养测定仪利用近红外光谱技术可以准确、快速、实时的监测作物叶片氮素含量状况和长势动态。还可以测量出植物叶片的叶绿素含量、叶片温度和叶片水分（叶片水厚度）。
植物冠层测定仪
FS-PAR植物冠层测定仪可广泛应用于农业生产和农业科研，为进行冠层光能资源调查，测量植物冠层中光线的拦截，研究作物的生长发育、产量品质与光能利用间的关系，本仪器用于400nm－700nm波段内的光合有效辐射（PAR）测量、记录。
LAM-A泛胜叶面积仪
LAM-A泛胜叶面积仪是一种使用方便、可以在野外工作的便携式仪器。可以精确、快速、无损伤地测量叶片的叶面积及相关参数，也可对采摘的植物叶片及其它片状物体进行面积测量。
LAM-D拍照式叶面积仪
LAM-D拍照式叶面积仪由图像采集设备和图像处理软件组成，采用本公司新开发的图像识别软件，根据叶片轮廓特征提取、图形实物转换、边缘检测等技术，能够形象并快速得到所测叶片面积、周长、虫洞数量等参数。
FS-PAR高精度小麦冠层分析仪
FS-PAR高精度小麦冠层分析仪可广泛应用于农业生产和农业科研，为进行冠层光能资源调查，测量植物冠层中光线的拦截，研究作物的生长发育、产量品质与光能利用间的关系，本仪器用于400nm－700nm波段内的光合有效辐射（PAR）测量、记录。